最新訊息：HandsOnMetrology 3D掃描【中央研究院】來分享數位化應用

作者：info 於 2022-03-16
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3D掃描重要性與需求不斷提升，ZEISS 3D掃描儀是量測產業的里程碑，輕巧可攜、精度卓越、功能強大，可直接在任何環境中進行量測，透過此次現場交流，優先體驗最與眾不同的量測方案！

#HandsOnMetrology 3D掃描系列解決方案，通過對各項優勢及具體應用的全面展示，本次研討會將告訴您3D掃描應用於數位製造如何達成：

⑴　逆向掃描實際物件，將實物數位化、開模製造
⑵　現場品檢量測，手持式設備如何完成現場工作
⑶　複雜產品造型，以掃描方式完成幾何公差與尺寸量測
本次活動有幸邀請到【中央研究院】來分享數位化應用的相關經驗，誠摯地邀請您一同參與！
主　題｜3D掃描應用於數位化製造http://www.ratc.com.tw/edm/2021/BD-Bicycle/BTN.jpg" width="250" />
日　期｜2022.03.17（週四）
時　間｜13:30－16:00（13:00－13:30報到）
地　點｜新北市三重區光復路一段88-7號7樓
【台北科技城】MAP

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　－3D掃描應用於數位化製造－
　HandsOnMetrology應用於數位化製造
　現場展示：
⑴ 蔡司手持3D掃描 T-SCAN hawk
⑵ 逆向工程掃描 ZEISS Scan 1
⑶ 高精度檢測 ATOS Q
　客戶分享－中央研究院
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